BRUKER PROBE的介绍

卷筒电缆 产品范围涵盖多种特别的使用场合线缆，包括：高柔性拖链电缆、电梯电缆、起重机电缆、国标3C线缆、欧标CE电缆、美标UL电子线，以及其他根据客户需求特别设计的线缆。 电缆在使用过程当中是上直的，所以在这个过程当中，电缆的攀升高度会对使用稳定性产生重大的影响

信号隔离器是一种用来隔离两个电路或设备之间的信号传输的装置。它可以隔离传感器、仪表、控制器等设备之间的信号，防止不同电路之间的干扰，同时也可以保护设备免受电磁干扰和高电压等因素的影响。信号隔离器通常采用光耦合、变压器或放大器等技术实现信号的隔离和阻隔，有

卷筒电缆 产品范围涵盖多种特别的使用场合线缆，包括：高柔性拖链电缆、电梯电缆、起重机电缆、国标3C线缆、欧标CE电缆、美标UL电子线，以及其他根据客户需求特别设计的线缆。 电缆在使用过程当中是上直的，所以在这个过程当中，电缆的攀升高度会对使用稳定性产生重大的影响

Knick信号隔离器还具有超高的可靠性和功能安全性，经认证可达到SIL 3/PLe的安全等级。其传输误差低至0.08%满量程，隔离度高，并通过加强绝缘提供电击保护，工作电压可达600V AC/DC。Knick信号隔离器是一种电子元件，它的主要作用是将输入的电气信号转化成相应的输出信号，同

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半导体分立器件根据基材不同,可分为不同类型。以硅基半导体为基材时,半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极型晶体管(IGBT)等；以宽禁带材料半导体为基材时,半导体分立器件主要包括:SiC.GaN半导体功率器件。

普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和

电阻式传感器电性能分析SMU数字源表 实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏; 在低电压下进行下高范围跨度(Q、 KQ、MQ、GQ)的电阻测量，测试设备输入电阻要求高; I/N曲线扫描; 上位机实时显示各不同压敏电阻R/t曲线，并可记录存档。 S系列源表+上位机软件

在APD的光电特性中，暗电流是一个重要的参数。暗电流是指在没有光照射的情况下，APD中由于热激发等原因导致的电子漂移和电子-空穴对产生而产生的电流，暗电流测试的准确性对于评估APD的性能和稳定性非常重要。在进行APD暗电流测试时，通常面临如下挑战：测试环境影响、连接

晶体管泛指一切以半导体材料为基础的单一元件，是一种半导体器件，放大器或电控开关常用；包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、晶闸管（后三者均为三端子）等。晶体管具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能，晶体管可用于各种各样的数字和模