BRUKER PROBE的介绍

　　BRUKER PROBE是一种创新设计，可以提供更高的重复性和分辨率。步计这一性能的提升，达到了布鲁克40年来的技术革新，进一步巩固了其在行业中的地位。无论是用于R&D还是产品测量，BRUKER PROBE都将可以通过其在研究工作中的广泛使用，实现更强大的功能、更简单的操作，以及更完善的检测过程和数据采集。

BRUKER PROBE的主要特色:

1.较小的弹簧常数更适合测量软样品。

2N/m的弹簧常数小于交流模式硅悬臂梁的弹簧常数，适用于观察软样品的表层形貌和粘弹性。

2.用低电阻率硅测量表层电位

悬臂衬底由掺氮硅制成，表层电阻为0.01-0.02ω·cm(为其他衬底的1/200)。这可用于测量表层电位和其他应用。

3.理想情况下，指向终端探针。

BRUKER PROBE的顶点是理想的点端接。

从正面看，四面体探针显示出良好的对称性。考虑几何特征，挑选快速扫描(X)方向。检验扫描线轮廓和顶点的放大图。

这就是我们今天说的。BRUKER PROBE是一款创新的产品设计，其所有强大的功能都是共享的。希望对大家以后使用这个设备有所帮助。

武汉瑞德仪科技有限公司主营：BRUKER PROBE、AFM探针、超尖探针、纳米压痕探针、显微镜探针针尖、扫描探针显微镜探针、导电探针、原子力显微镜探针、原子力探针、金刚石探针。